Neue Dimensionen in der Solar Wafer Inspektion

Vollintegriertes System für die ganzheitliche Qualitätskontrolle von Solarwafern

Das Unternehmen GP Solar präsentiert mit dem neuen GP WIS 2.0 ein vollintegriertes System für die ganzheitliche Qualitätskontrolle von Solarwafern auf der wichtigsten asiatischen Photovoltaikmesse SNEC 2012 PV Technology in Shanghai. Die zentrale Automatisierungseinheit des Systems bildet die Grundlage für die Integration aller für die moderne Waferinspektion notwendigen Messsysteme. Eine Weltneuheit ist die sogenannte 3-D Rauigkeitsmessung auf der gesamten Waferfläche in Kombination mit der weltweit führenden Technologie für die Mikrorissdetektion. Alle eingesetzten Messverfahren setzen neue Maßstäbe in Bezug auf Genauigkeit und bis zu 30-fach verbesserter Auflösung bei einem Durchsatz von mehr als 3.600 Wafern pro Stunde.

Der GP WIS 2.0 ist mit Transportbändern ausgestattet, die zuverlässige on-the-fly Messung und hohen Durchsatz ermöglichen und gleichzeitig die Transportbelastung für die Wafer minimieren. Jegliches Zubehör für die umfassende Waferinspektion kann passgenau in die Automationseinheit integriert werden.

Das kompakte System liefert exakte Inspektionsergebnisse hinsichtlich Sägeriefen, Dicken- und Widerstandsmessungen, 100%-ige Detektion von Mikrorissen. Mit der Bestimmung dieser und weiter notwendigen Waferqualitätsdaten können über 300.000 Euro pro Jahr eingespart werden.

Das Maschineninterface ist intuitiv steuerbar und ermöglicht neben der Maschinenkontrolle und der Bedienung der Inspektionseinheiten auch die Darstellung der Klassierungsergebnisse und Statistiken. Alle Messgrößen und-ergebnisse sind auf einem übersichtlichen (24 Zoll), vertikal positionierten Touchscreen gut erkennbar. Nach der vollständigen Inspektion werden die Wafer mittels separat verfügbarer Sortiereinheiten in verschiedene Qualitätsklassen eingeteilt.

"Die Waferqualität ist immer stärker im Fokus, bei der Effizienzsteigerung von Solarzellen. Eine lückenlose Kontrolle aller essentiellen Wafereigenschaften ist die beste Grundlage diese Leistungssteigerung in den Produktionslinien umzusetzen." betont Dr. Eric Rüland, Geschäftsführer der GP Solar.

Neben diesem System wird auch der kürzlich erschienene GP STAB.TEST .Pro (Meldung vom 08.05.2012) zur Überprüfung der Stabilität von Wafern und Zellen live auf der Messe präsentiert.